公司简介：
1964年成立FEINmetaLL，首先是生产高科技钟表弹簧的专家。1974年生产一批弹簧接触探针作为电子行业的测试介质。1980年开发首批采用“屈曲梁”技术的测试头，用于接触陶瓷基板。1985年推出一批用于晶片测试的环氧探针卡。1986年开始生产用于电路板在线和功能测试的测试夹具。1997年ViProbe®（垂直探针卡）的推出代表了微级接触技术的一项技术飞跃。1998年在捷克共和国建立用于探针的装配工厂。2006年在新加坡和台湾设立子公司，以在亚洲分销和维修探针卡。2006年在捷克共和国建设新的生产设施。2009年在墨西哥成立销售子公司，用于接触式探针。2012扩大在亚洲的接触探针业务部门，并在上海和深圳设立子公司。2014,50年的精度和质量-这是值得庆祝的原因！
FEINmetaLL提供用于质量控制领域的测试设备。我们的接触式探头的种类和质量令人信服。我们用于晶圆测试的探针卡代表着成功，好的技术，且具有可行性。了解有关创新和技术者的更多信息。
探针是电测试的接触媒介，为精密型电子五金元器件。
弹簧接触探针用于测试印刷电路板，线束，连接器和其他电子组件。此外，它们可以用于接口中，也可以用作可轻松移除的电气连接。
FEINmetaLL提供了广泛的接触探针品种，并可以针对每个特定的接触任务进行匹配。我们贴近市场和客户，以及我们在构造和生产弹簧接触探针方面的多年经验，为功能，创新和经济的产品奠定了坚实的基础。我们的产品开发符合客户对越来越精细的结构，更高的电流，更高的接触电阻或更高的频率限制的需求。
• ICT / FCT探头
• 电池触点
• 短行程探针
• 细间距探针
• 双柱塞探头
• 接口探针
• 同轴探头
• 射频探头（RF探头）
• 大电流探头
• 螺纹探头
• 线束探头
• 步进探头
• 开关探针
• 防扭曲探头
• 推回探针
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